Trích:
Nguyên văn bởi tuananhcyberchem
thầy của mình nói rằng cách tính % nguyên tử trên bề mặt vật liệu bằng XPS ko đơn giản chỉ dựa vào diện tích đỉnh của peak mà còn phải dùng thêm một công thức gì đó có liên quan đến cả Z của nguyên tố đó đã được lập trình sẵn trong máy vi tính nối với máy XPS nữa cơ, bạn nào có ý kiến gì về việc này?
|
Lôi topic này lên để mọi người cũng bàn luận tiếp về XPS, vì sau 1 thời gian, mình có điều kiện học nhiều về XPS, nên hy vọng sẽ đóng góp tiếp cho topic.
Mãi đến bây giờ mình nghĩ mình mới biết trả lời câu hỏi của bạn. Đúng vậy, để tính % của 1 nguyên tố trong XPS, phải xét đến 1 yếu tố, đó là Section efficace của từng nguyên tố trong XPS (tiếng Anh là cross section, còn tiếng Việt là gì thì mình ko biết dịch thế nào cho đúng, ai biết dịch dùm nhé). Section efficace hay cross section là đại lượng thể hiện xác suất của electron của nguyên tố đó bị đẩy ra ngoài chân không sau khi bị kích thích bởi photon. Ví dụ section efficace của C 1s = 1, còn O 1s = 2.5 hay Rh 3d5/2 = 8.9 (đây là các số liệu thực nghiệm)
Vậy nên để tính % của 1 nguyên tố, nguyên tắc tổng quát:
i) chọn peak có section efficace (cross section) lớn nhất
ii) % nguyên tố đó = (diện tích peak đó / section efficace)
Nếu thời gian tới, mình có thời gian thích hợp, sẽ viết kĩ hơn về XPS (hay ai đó hiểu biết nhiều hơn, thì viết 1 bài rõ ràng hơn về XPS nhé)