[bluemonster]

Nguyên văn bởi LessThanPerfect

-X-ray diffraction (XRD): đây chỉ là một phương pháp gần đúng và dựa trên peak broadening. Một công thức Scherrer đại loại như t = 0.9 Lamda / B cos(Theta) có thể sẽ hữu dụng. Trong đó Lamda là wavelength (độ dài sóng) của tia X bạn sử dụng. B là full-width at half maximum, tức là broadening của cái peak bạn chọn đo tại mức bằng phân nửa chiều cao của cái peak đó, Theta là cái angle của cái peak bạn chọn, và t là CRYSTALLITE size. Một số lưu ý: XRD chỉ cho bạn biết crystallite size chứ không phải particle size. Nhiều khi một hạt (particle) có nhiều crystallites trong đó. Khi crystallite lớn hơn một vài micron thì cái peak broadening không đủ lớn để bạn có một sự đo đạc chính xác. Ngoài ra, mỗi cái diffractometer cho ra intrinsic peak broadening và bạn nên dùng một standard để xác định thông số này để rồi sửa lại B mà bạn có được từ XRD pattern cho cái mẫu của bạn.

Từ "particle" trong câu nói của anh LessThanPerfect, theo em hiểu chính là powder. Trong các nghiên cứu về xúc tác, hay các semiconductor em đã tìm hiểu, thì người ta vẫn dùng phương trình Scherrer equation để đo particle size. Như vậy, particle size có thể hiểu trong trường hợp này giống như crystallite size.

Còn nếu dùng từ "powder", thì có thể trong powder đó chỉ một crystallite orienation (single crystalline), nhưng cũng có thể là multi-orienation (polycrystalline). Khi đó, Scherrer equation chỉ có thể đo được crystallite size L(hkl) perpendicular to hkl plane.

Một vài ý kiến thông qua các bài báo đã đọc, mong được các anh bro chỉ giáo thêm.